Patentrecherche und -analyse: Intelligentes Patentrecherche- und Analysesystem des chinesischen Staatsamtes für geistiges Eigentum 160

Patentabfrage und -analyse, ein Tool zur Recherche und Analyse von Patentinformationen, ist ein von der Nationalen Behörde für geistiges Eigentum eingeführtes intelligentes Patentabfrage- und Analysesystem. Es enthält Patentdaten aus 105 Ländern und Regionen und unterstützt verschiedene Abfragearten.

Das System „Patentabfrage und -analyse" bietet mehrsprachige Versionen der Abfrage- und Analysefunktionen und unterstützt neun Sprachen, darunter Chinesisch und Englisch, um Benutzer mit unterschiedlichem sprachlichen Hintergrund zu bedienen.

Funktionsmerkmale der Patentabfrage und -analyse:

Umfassende Abdeckung der Patentdaten: Das System „Patentabfrage und -analyse" enthält Patentdaten aus über 105 Ländern, Regionen und Organisationen, einschließlich Zitierungen, Patentfamilien, Rechtsstatus und weiteren Informationen.

Vielseitige Abfragemethoden:

• Allgemeine Abfrage: Geeignet für schnelles Suchen, das System erkennt Schlüsselwörter automatisch.

• Erweiterte Abfrage: Bietet mehrere Felder wie Erfindungsname, Zusammenfassung usw.

• Befehlszeilenabfrage: Für professionelle Benutzer zur Durchführung komplexer Abfragen mittels Abfrageausdrücken.

• Spezielle Abfragemethoden wie Arzneimittelrecherche, Navigationsrecherche, themenbezogene Datenbankrecherche usw.

Anzeige und Analyse aus mehreren Blickwinkeln:

• Bietet verschiedene Anzeigemodi wie Bild-Text-, Listen- und Detailansicht.

• Die Analysefunktionen umfassen mehrdimensionale Analysen nach Anmelder, Erfinder, technischem Gebiet usw. und unterstützen erweiterte Analysen sowie die Erstellung individueller Berichte.

Hilfswerkzeuge und Dienste:

• Werkzeuge wie Familienabfrage, Zitatanalyse und Rechtsstatusabfrage helfen, den Patentstatus und dessen Auswirkungen zu verstehen.

• Unterstützt mehrsprachige Versionen und verbessert die Benutzerfreundlichkeit für internationale Anwender.

• Rechtzeitige Datenaktualisierung: Chinesische Patentdaten werden zweimal pro Woche aktualisiert, ausländische Daten wöchentlich, sodass die Aktualität der Informationen gewährleistet ist.

Bedienungsablauf der Patentabfrage und -analyse

• Zugang und Anmeldung: Benutzer können über die offizielle Website der Nationalen Behörde für geistiges Eigentum oder über Verknüpfungen zum öffentlichen Dienstleistungsportal auf das System zugreifen. Für die Nutzung ist eine Registrierung erforderlich.

Abfragevorgang:

• Nach dem Aufrufen der Seite „Patentabfrage" wird standardmäßig die Seite „Allgemeine Abfrage" angezeigt.

Bedienung der allgemeinen Abfrage bei der Patentabfrage und -analyse:

1. Nach dem Aufrufen der Seite „Patentabfrage" wird standardmäßig die Seite „Allgemeine Abfrage" angezeigt, wie in der folgenden Abbildung dargestellt.

2. Auf der Seite „Allgemeine Abfrage" stehen 7 Abfragefelder zur Auswahl: automatische Erkennung, Abfrageelement, Anmeldenummer, Veröffentlichungsnummer, Anmelder/Erfinder und Erfindungsname. Wählen Sie beispielsweise das Abfragefeld „Automatische Erkennung", geben Sie dann im „Abfrageausdruck-Bearbeitungsbereich" „Mobiltelefon" ein, wählen Sie den Datenbereich aus und klicken Sie schließlich auf die Schaltfläche „Suchen", um die Suche auszuführen und die Ergebnisseite anzuzeigen.

Hinweis: Bei der Suche mit „Automatischer Erkennung" werden mehrere durch Leerzeichen getrennte Schlüsselwörter mit der Beziehung „AND" verknüpft. Beispiel: Bei der Eingabe „Samsung IBM" sucht das System automatisch nach der Beziehung „Samsung AND IBM".

• Wechseln Sie zur Oberfläche der erweiterten Suche, um komplexe Abfragebedingungen zu konfigurieren.

• Verwenden Sie die Befehlszeilenabfrage für professionelle Suchanfragen.

Ergebnisanalyse und Download:

• Nach der Suche können die Ergebnisse zur Analysequelle oder zum Batch-Download-Pool hinzugefügt werden.

• Unterstützt Datenanalyse und Erstellung von Berichten.

• Herunterladen von Patentdokumenten oder Ergebnislisten der Recherche.

Das nationale Patentabfrage- und Analysesystem ist als umfassende und leistungsstarke Plattform für Patentinformationen eine wertvolle Ressource für Patentanmelder, Forscher und Unternehmen. Es stellt umfassende Patentdaten bereit und verbessert durch intelligente Abfrage- und Analysewerkzeuge erheblich die Effizienz bei der Beschaffung und Nutzung von Patentinformationen.

Tipps zur Suche in der Patentabfrage und -analyse finden Sie im folgenden Anhang.

Anhang:Benutzerhandbuch für das System „Patentabfrage und -analyse" – Abfrage (PDF)